Chroma 1871是专门为芯片型电感所设计的自动化测试生产设备，特别针对层间短路测试而设计，满足客户端大量生产需求。1871的测试功能为层间短路测试(IWT)，是把关芯片电感质量的测试系统。此系统也承袭Chroma19301A绕线组件脉冲测试器所有的判断功能，包含波形面积比(Area)、放电二次微分侦测(Laplacian)及新的测试判断功能波峰降比(ΔPeakRatio)、共振波面积比(ΔResonantArea)。为因应现今电子产品，薄型化的电感器被大量使用，相对的也需大量生产，Chroma1871生产效率为每分钟1,500个，可满足庞大产能需求。利用5组层间短路测试站同时测试来达到快速量产。亦可选择仅搭配2组层间短路测试站给予不需量产的研发或品保等单位使用，以符合的成本效益。
主要特点
■适用尺寸3.2mmx2.5mm~1.6mmx0.8mm
■测试包装速度600ppm~1500ppm
■层间短路判断功能：-面积比(Area)-放电二次微分侦测(Laplacian)-波峰降比(ΔPeakRatio)-共振波面积比(ΔResonantArea)
■具接触检查功能以延长治具使用期限
■可选择搭配5组或2组测试站
■导引盘设计，无掉料疑虑
■类四线式量测设计的测试座
■具有各种不良品独立收集盒
■专用数据收集软件，可实时监控生产质量
■切换式中/英/日文操作接口
■设备快速、稳定、安全
四线式量测专用测试座
芯片型电感的规格非常小，在进行层间短路测试时容易受到配线及治具的影响。一般测试座为二线式设计，进行电感值较小的层间短路测试时，配线的影响更为显著，容易发生实际施加于芯片型电感上的电压低于设定电压。类四线式的特殊设计使输出讯号传送及测量讯号撷取的影响降到，所以不易受配线影响，搭配Chroma19301A的电压输出补偿功能后，可确保设定电压与实际施加电压一致。
稳定高寿命专用测试片
一般测试治具与产品的接触端皆使用探针，探针内部的弹簧容易造成测试误差。Chroma1871的治具设计为测试片，直接与测试线连接不会受弹簧影响，测试片与待测物接触面积比探针大，接触良好，使用寿命也优于探针，且容易保养维护。
各测试站独立不良收集盒
Chroma1871同时搭配5台19301A，皆具相同测试目的，为方便使用者进行分析，可将不良品依照不同测试条件各自独立收集、清楚分类，分析各种测试不良品状况后可改善生产质量。
