HIOKI/日置IM3570阻抗分析仪基本特征
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本±0.08%的高测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
阻抗分析仪IM3570测量方式：压电元件的共振特性的测量
LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
HIOKI/日置IM3570阻抗分析仪基本规格表
HIOKI/日置IM3570阻抗分析仪测试选件
1、4端子探头L2000 DC~8MHz，1m长
2、4端子开尔文夹9140-10 DC~200kH，50 Ω，1 m长
3、镊形探头L2001
线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
4、测试治具9261-10 线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
5、测试治具9262 DC～8 MHz, 直接连接型
6、SMD测试治具9263 直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
7、DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型，40Hz~8MHz，外加电压DC±40V
8、DC偏置电流单元 9269-10 直接连接型，40Hz~2MHz，外加电流DC 2A(外加电压DC±40V)
9、4端子探头 9500-10 线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
10、SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
11、SMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下