项目描述
集成电路(IC)的快速发展，体积逐渐向更小更密集的规格演进，且加上IC运行速率的提升和成本的下降，使得IC EMC问题日益受到重视，其中包含IC电磁辐射、电磁抗扰、脉冲抗扰以及EOS失效模拟等测量解决方案逐渐已得到行业广泛应用，东昇射频立足电磁兼容软硬件自动化测量方案开发经验，现已具备完整的针对IC EMC的全套测量解决方案，符合欧洲、美国及日本等标准测试要求，可提供针对手机、电脑、家电等消费类产品IC的EMC测量解决方案。
解决方案覆盖标准范围
| IEC61967， 150kHz -1GHz 的IC电磁发射测试 | ||
| 标准 | 项目 | 备注 |
| IEC61967-1 | 通用条件和定义 | 参考 SAE J1752.1 |
| IEC61967-2 | TEM 小室法 | 参考 SAE J1752.3 |
| IEC61967-3 | 表面扫描法 | 参考 SAE J1752.2 |
| IEC61967-4 | 直接耦合法 | |
| IEC61967-5 | 法拉第笼法 WFC | |
| IEC61967-6 | 磁场探头练汪法 | |
| IEC61967-8 | 带状线法 | |
| IEC62132，150kHz -1GHz 的IC电磁抗扰测试 | ||
| IEC62132-1 | 通用条件和定义 | |
| IEC62132-2 | TEM 小室法 | |
| IEC62132-3 | 大电流注入法 (BCI) | |
| IEC62132-4 | 直接射频功率注入法 (DPI) | |
| IEC62132-5 | 法拉第笼法 (WFC) | |
| IEC62132-8 | 带状线法 | |
| IEC62132-9 | 表面扫描法 | |
| IEC62215，IC脉冲抗扰测试 | ||
| IEC 62215-1 | 通用条件和定义 | |
| IEC 62215-2 | 同步脉冲注入法 | |
| IEC 62215-3 | 随机脉冲注入法 |
适用范围
各类处理器、记忆芯片、记忆管理芯片、以太网控制器、10控制器 、集成芯片、电源芯片、LED驱动、USB驱动、生物芯片、CMOS、NMOS、PMOS以及各类蓝牙模块、手机模块、通讯模块等