一台仪器就可满足不同测量条件的高速检测要求
阻抗分析仪IM3570为测量频率4Hz~5MHz，测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析仪合二为一的仪器。可以用交流信号测量LCR、直流信号测量电(DCR)、测量频率和电平能连续和变化的情况下进行扫描测量等。因为能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量，仅用一台就能取代现在用在生产线上的众多仪器。
阻抗分析仪的优势
1.压电元件的共振特性测量
通过扫频测量，来测得频率和阻抗值，根据峰值的比较功能可判断共振状态是否优良。在LCR模式下，可以测量120Hz到1kHz之间的C值变化。1台就能够实现高速·高的测量可连续进行扫频测量(阻抗分析)和C值测量均可在这1台仪器上实现。另外，可利用IM9000(选件)的等效电路分析功能根据参数进行合格与否判定。缩 短 了 测 量 时 间。LCR 测 量 模 式 实 现 1.5ms*(1kHz)、0.5ms*(100kHz)。与本公司以往产品 (3522-50,3532-50:5ms) 相比，大幅提高了测量速度。因此，提高了检测效率。另外，多点扫描测量时，可实现以0.5ms测试一
个点。
2.高分子固态电容的C-D值和低ESR测量
可进行高分子固态电容的C-D值(120Hz)和低ESR(100kHz)的测量。可设置不同的测量条件(频率、电平、模式)连续测量不同的测量项目。与本公司以往产品相比，测量低阻抗的时候重复提高一位。例如，在测量条件在1mΩ(1V，10 0 kHz)测量速度为MED的时候重复(偏差)*0.12%可放心测量。也适用100kHz的ESR测量。
3.电感(线圈，变压器)的DCR和L-Q值测量
连续测量L、Q值(1kHz，CC1mA)和DCR可以在同一画面上显示数值。对于带磁芯的线圈，由于电感测量值会随测试电流大小而变化，现在的产品可以用恒流CC的方式解决这个问题。与以往产品相比，低电容测量时的重复提高了一位，可以更为稳定的测量DCR了。与以往产品相比θ的测量也提高了，可利用比之前型号在、重复上提高一位的特点，针对θ(相位)90°附近的高Q值，Rs值的产品进行测量。根据线圈的用途不同，测试频率也有所不同。测量频率范围广，是4Hz~5MHz，能够测量各种线圈。对于有电流依存性的元件，通过恒流扫描测量，可将电流特性用图表形式显示出来。
IM3570的特点
●低电容(高阻抗)测量，提高稳定性
和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复提高了一位。例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。同时，因为也提高了相位的重复，所以提高了低电容(高阻抗)测量时的D测量的稳定性。
●广范围的测量频率
IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范围内以5为分辨率(1kHz以下为0.01Hz分辨率)设置频带。可进行共振频率测量和接近工作条件状态下的测量和评估。
●广范围的测量电压/电流
除了可以设定一般的开环信号，还能设定恒压/恒流模式。可设定的测量电平信号，从5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)。(根据频率、测量模式不同，测量信号电平的设置范围也不同。)
●15种参数测量
可测量Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q的参数，还可以将需要的参数读取至计算机中。
技术参数