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耐压测试中接触检查的重要性

耐压测试是通过输出高压来测量回路中有无漏电流的设备,当连接的测试线的断线、接触不良,Relay氧化等原因造成无电流现象时,也会被误判定是Pass,结果造成不良品流入市场。因为耐压测试是安全标准测试,如果没有做到准确无误,在市场上是可能引起各种致命故障及纠纷的重要因素,所以接触检查在耐压测试中显得相当重要。


接触检查的功能介绍及应用

设定漏电流下限值Low  Limit

以产品的正常漏电流为参考设置耐压测试的漏电流下限值,待测物未接触良好时的漏电流接近为零,低于漏电流下限值,以此来实现接触检查。例如:良品检测电流在1mA-5mA范围,可设定下限为:0.9mA,当报Low Fail时,即可判定接触不良,如下图设定:


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OSC接触检查功能

一般耐压测试产品皆呈电容性 (Cx),在正常状态下可能在数十 pF 至数 μF 之间(如图1)。一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量 ( 图 2 之 Cc), 一般 低于 1pF,而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象(如图3)。因此可利用电容量的上下 限值判定出开短路问题。


HFCC高频接触检查功能

测试原理 :  与OSC相同进一步提升测试频率,减小容抗(Xc)使侦测范围更宽广与精准,进而改善OSC功能无法检测小电容量待测物的问题。测试频率250KHz-500KHz(OSC测试频率600Hz)。不同于OSC独立步骤设定,同Low  Limit一样在耐压测试项目中去设定。

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HVCC高压接触检查功能

测试原理 :利用高压测试时,分别于高电压端及低压端迭加直流电压做接触检查, 当与待测物接触时直流电压会形成回路导通反之就是开路,利用此方法来 达到高压接触功能。使用方式:接上两根Contact Check线于测试端,测试参数内开启HVCC功能即可。针对高绝缘能力之组件于高压输出时同步进行接触检查,提升测试可靠度与效率。


HSCC快速接触检查

测试原理:  提供快速的DCR测量功能来完成接触检查,确认测试线与各绕组是否接触良好。具备DCR测试功能的19035/19036支持HSCC测试,多通道的设计符合马达等多绕组产品的测试需求。独立的量测功能,同OSC一样需单独步骤设定,一个绕组的测试时间约20ms。


Chroma机种接触检查功能一览表

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